TH2661型手持式四探針測試儀

TH2661型四探針測試儀，可測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量，USB接口可為用戶提供遠程控制及測試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計和分析。

由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應固定場合對元器件進行檢測，又可隨身攜帶以滿足測試人員的現(xiàn)場測試要求。

   大屏幕液晶顯示

■ 采用SMT表面貼裝工藝

■ 可手動或自動選擇合適的電流源量程

■ 電流源方向有正方向、反方向和正反方向三種選擇

■ 預設樣片厚度，自動修正，直讀電阻率

■ 報警門限預設，可用于HI PASS LOW 分選

■ 200個讀數(shù)存儲，可對存儲讀數(shù)求zui大值、zui小值和標準偏差值 等數(shù)學統(tǒng)計

■ USB通訊功能，可通過上位機軟件對手持表進行操作

■ 0.5%基本精度

■ 讀數(shù)穩(wěn)定性好

■ 自動關機功能

■ 電池及外接電源供電方式

TH2661型手持式四探針測試儀技術參數(shù)：